wafertest測試的流程有哪些?
所屬類別:2019-10-22 閱讀:1786次
在完成校驗工作后就可以進行wafertest測試,在測試時需要先取出探針,探針的選擇要按照電極之間的距離和類型來確定,這樣挑選的探針才可以確保測試操作的準(zhǔn)確度。這是在進行測試時的關(guān)鍵步驟,去探針的時候需要謹(jǐn)慎小心,操作期間不可以太用力,這樣才可以將探針擰在螺母上。
將探針取下之后,需要將探針固定在三位支架上,同時要連接在端口線纜上,并放置在升降載物臺上進行操作。在進行wafertest測試期間,需要按照具體的操作流程來進行,工作人員還需要掌握具體的方法和技巧,確保操作的精準(zhǔn)度。
進行wafertest測試期間還需要注意電極信號是否準(zhǔn)確,電極要符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn),如果電極的設(shè)置不達標(biāo),也會直接影響到測試工作的進行情況。在完成測試流程后,需要注意數(shù)據(jù)的導(dǎo)出情況,要按照標(biāo)準(zhǔn)流程將數(shù)據(jù)導(dǎo)出,同時進行存儲,這樣在可以確保數(shù)據(jù)的完好,為工作提供更加有利的信息。
現(xiàn)在wafertest測試操作已經(jīng)得到了很多用戶的關(guān)注,為了讓測試更加可靠到位,在操作過程中要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進行。工作人員還需要熟悉各個流程的關(guān)鍵點,遇到問題需要及時進行處理,避免因為操作方法不當(dāng)而影響到測試工作的進行情況。另外測試信息的獲取要符合客戶需求,并及時反饋,以便于提升工作效率,讓產(chǎn)品的質(zhì)量更好,為市場輸入更多合格產(chǎn)品。
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